25微米狭缝的分辨率为1纳米
最全面的光谱仪
对低光应用具有最高的灵敏度
TE冷却器使长曝光时的信噪比提高65%。
带有光学透镜组件的紫外线增强型CCD检测器
SILVER-Nova-TEC-X2 2级TEC,用于-30度冷却和80%的噪音降低
可换式狭缝升级选项
SILVER-Nova是最全面的光谱仪选择,可以为190-1110nm波长范围内的众多光谱应用提供研究级结果。
复合光栅技术可在紫外和近红外光谱的极端范围内提供高效率。
卓越的检测器灵敏度 - 紫外线增强型CCD检测器带有集成的TE冷却器、增益增强器和光学透镜组件,具有无与伦比的灵敏度,在长时间曝光时噪音降低65%以上。
高分辨率 - SILVER-Nova光学设计的进步提供了1纳米的分辨率,缝隙为25微米。此外,金属外壳坚固而紧凑,可用于便携式、加工或实验室环境。
包括TEC和TEC-X2的升级能力--光学外壳包括密封和隔离的探测器外壳,具有专门的散热器和空气流设计,以增加稳定性和冷却操作。热电探测器的冷却提高了探测器的稳定性,适用于热噪声可能扭曲和覆盖信号的长时间测量。标准的SILVER-Nova包括-15度的1级TEC,并可选择升级到低于环境温度-30度的2级TEC-X2;这通过在长时间曝光时减少80%以上的噪音,大幅提高仪器的信噪比。
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