废料回收分拣系统 KSS®

X 射线XRF激光

利用 X 射线荧光分辨铜和锌--即使是涂层表面 一段时间以来，X 射线荧光分析 (XRF) 已成为实验室领域化学分析不可或缺的一部分。X 射线荧光技术为我们提供了进一步获得更精确材料知识的机会。因此，我们的 STEINERT KSS | XF L 分拣系统根据可分拣材料的元素组成，使用 X 射线荧光分析 (XRF) 进行检测和分拣。例如，可以根据铜或锌的固有元素将它们区分开来。甚至在表面污垢严重的情况下也能做到这一点，垃圾焚烧产生的金属就经常出现这种情况。还可以检测带有金属涂层的废金属。 虽然这项技术只涉及表面评估，但镀镍黄铜件中的镍、铜和锌的组成成分却能被清楚地识别出来，因此可以作为分拣决策的信息。 STEINERT KSS | XF L 组合传感器分拣系统将 XRF 传感器系统与 3D 检测相结合。激光三角测量用于精确的物体检测，从而能够对所有检测到的信号进行清晰的映射。这也提高了提取效率，大大降低了压缩空气消耗量。STEINERT KSS | XF L X 射线分拣系统的工作宽度为 1,000 毫米和 2,000 毫米，可在 10 至 120 毫米的粒度范围内实现最佳运行。 您将受益匪浅： KSS | XF L = 带 3D 检测和 XRF 传感器系统的组合传感器分拣系统 利用 X 射线荧光按元素组成分拣