FPGA控制卡 S-TEST UTB

LVDS

适用于数字传感器的高效系统级测试 (SLT)、传感器特性测试或传感器批量生产的最终测试的通用电路板。 部分数据 电源电压范围-2 v...+20 (25)1) v 电源电流：最高 ±50 (20)1) mA/源 12.5 ns 时序分辨率 压摆率控制（1 V/μs...8.3 V/ms） 特性 用于 FW 和主机接口 IP 核的快速 FPGA 支持 SPI、I²C、JTAG、SENT、PSI5、CAN-FD2)、LIN 和 ZACwire™ 16 个可自由编程的 IO 引脚 4 个独立电源 外部触发功能 快速 LVDS 背板接口 用于定制硬件扩展的特殊功能接口