折射率探测器 RID-20A

差分动态实验室

概述
基于Prominence系列的稳定性与可扩展性，RID-20A为高灵敏度差示折光率检测器，具备参考池自动冲洗和验证支持功能，适用于受监管环境下的操作需求。

主要特性

• 缩短稳定时间并提高基线稳定性：光学系统的双温度控制可缩短通电后达到稳定基线的时间。
• 预热时间短：光学系统安置在双温度控制模块中，对流入流动相进行两阶段温度控制。
• 宽动态范围与高灵敏度：四分区光电探测器覆盖0.01至5000 μRIU的折光率范围，支持从高灵敏度分析到制备型应用。
• 参考池自动冲洗与验证支持功能：自动冲洗与验证工具提升运行效率与可追溯性，利于合规管理。

技术规格

• 型号：RID-20A
• 制造商：Shimadzu
• 检测器类型：差示折光率检测器（高灵敏度）
• 光电探测器：四分区光电探测器
• 折光率检测范围：0.01–5000 μRIU
• 温度控制：双温度控制光学模块；对流入流动相实施两阶段控制
• 特殊功能：参考池自动冲洗；验证支持功能
• 应用：从高灵敏度分析到制备型应用
• 稳定时间：显著缩短（通电后约30分钟通常可达稳定基线）