荧光光谱仪 NEX DE

EDXRF工艺流程监控

作为一台优质高性能benchtop能量分散性X-射线荧光(EDXRF)自然力分析仪，新的Rigaku NEX DE提供与易学的基于Windows®的QuantEZ软件的宽自然力覆盖面。非破坏性从钠(Na)分析通过在几乎所有矩阵的铀(u)，从固体和合金到粉末、液体和泥浆。 XRF元素分析在领域、植物或者实验室 特别是设计和设计为重的工业监测应用的用途，在植物地板或在遥远的领域环境，NEX DE的优越分析力量、灵活性和易用是否增加到它对一个扩展应用范围的宽广的要求，包括探险、研究、大块RoHS检查和教育，以及工业和生产。需要是否是基本的质量管理(QC)或它的更加老练的变形—例如分析质量管理(AQC)，质量管理(QA)或统计程序控制象六个斯格码—NEX DE是定期元素分析的可靠的高性能选择由XRF。 与60kV X光射线管和SDD探测器的XRF 60kV X光射线管和塞贝克冷却快速的SDD®硅漂泊探测器提供例外短期反复性和长期增殖率与优秀元素高峰决议。这高压能力(60 kV)，与高排放当前和多自动化的X光射线管过滤器一起，提供各种各样的XRF应用通用性和低极限侦查(里奥)。