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校准用测量系统
XM-60
光学
激光
几何
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产品规格型号
所用技术
激光, 光学
应用
校准用
其他特性
紧凑型, 高精度, 几何
产品介绍
XM-60是一款激光测量系统,只需一次设定即可沿线性轴同时测量6个自由度的误差。它具有强大的诊断工具,通过一次采集就可以测量轴的所有几何误差。 对于执行空间补偿的用户,XM-60为他们获得所需数据组提供了一种快速精准的方法。所有测量均为光学测量,可在任意方向执行。
PDF产品目录
Brochure: XM-60 multi-axis calibrator
24 页
Brochure: XR20 rotary axis calibrator
12 页
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3-07 6月 2024
Bilbao (西班牙)
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10-14 6月 2024
Frankfurt am Main (德国)
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