校准用测量系统 XM-60
光学激光几何

校准用测量系统
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产品规格型号

所用技术
激光, 光学
应用
校准用
其他特性
紧凑型, 高精度, 几何

产品介绍

XM-60是一款激光测量系统,只需一次设定即可沿线性轴同时测量6个自由度的误差。它具有强大的诊断工具,通过一次采集就可以测量轴的所有几何误差。 对于执行空间补偿的用户,XM-60为他们获得所需数据组提供了一种快速精准的方法。所有测量均为光学测量,可在任意方向执行。

展厅

该卖家将出席以下展会

BIEMH 2024
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3-07 6月 2024 Bilbao (西班牙) 展会 2 - 展台 D-38

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    ACHEMA 2024
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    10-14 6月 2024 Frankfurt am Main (德国)

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    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。