测量接触式探头 SFP2

扫描式MMT接触触发

REVO® SFP2使表面粗糙度检测与坐标测量机 (CMM) 测量程序整合。 表面光洁度/表面粗糙度测量 传统的表面粗糙度测量依赖手持式传感器或者需要将工件搬运到专用测量机上。REVO多类型传感器系统彻底突破了上述局限，它将表面粗糙度检测整合到坐标测量机 (CMM) 测量程序中，可让用户在扫描测量与表面粗糙度检测之间切换。该独特功能还可将表面粗糙度分析完全整合到同一份测量报告中。 在五轴测量技术的支持下，SFP2的自动化表面粗糙度检测可显著节省时间，减少工件搬运，并获得更高的CMM投资回报。