X射线显微镜 SEM-Raman

用于分析原位台式

拉曼-SEM使您能够在一台系统内全面地原位表征样品性能。两种技术的联用重新定义了便捷、效率和生产力。 雷尼绍结构与化学成分分析仪 (SCA) 接口使扫描电镜 (SEM) 具有了inVia的拉曼点测量和成像能力。 拉曼+SEM inVia和SCA接口提供了一种SEM内部分析技术，既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱，又克服了X射线能量散射谱 (EDS) 作为传统的SEM内部分析技术的局限性。采用雷尼绍拉曼-SEM联用系统，您将受益于定位共同点的形貌、元素、化学、物理和电子分析。 使用SEM生成样品的高分辨图像，并进行元素分析。增加拉曼分析能力，以获取化学信息和图像。识别物质和非金属，即使当它们具有相同的化学计量结果时也不例外。 SCA和inVia不仅可以测试拉曼光谱，还可以进行光致发光 (PL) 和阴极射线发光 (CL) 光谱测试。 冲积物的X射线分析 冲积物的X射线分析 一套用于原位分析的联用系统 使用一套联用系统，可节省宝贵的时间。您无需在两台仪器之间移动样品，也不会分析错误的样品区域。 inVia和SEM可同时作为独立系统使用，而不会影响两者的任何性能。您将拥有一台拉曼系统、一台SEM系统和一套拉曼-SEM联用系统。