拉曼式显微镜 SPM/AFM

用于分析共焦毫微秒示波器

您可以将inVia的拉曼分析能力与扫描探针显微镜（SPM和AFM）联用，在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。 选择最佳系统 inVia具有极大的灵活性，雷尼绍能够将其直接耦合到如下供应商的各种AFM和SPM上： Bruker Nano Surfaces Nanonics NT-MDT JPK Park Nanosurf 选择满足您的需求的最佳SPM/AFM系统。