双折射测量系统 PA series

光学玻璃用于控制

二维双折射测量系统 我们的宽范围双折射测量PA/WPA系列系统提供透明和半透明材料的高速双折射测量，如镜片和其他透明部件，用于残余应力评估，或透明薄膜的相位均匀性评估。 从微观到宏观（～50cm），视场可以适应几乎所有的测量FOV。不管你的主题是什么，我们相信我们有一个适合各种尺寸的系统。 所提供的专用软件提供了诸如改变视场大小和增加高延迟样品的测量范围等选项。提供各种过滤器，如降噪或局部变化增强等，以帮助您的数据分析任务，另外可配置的和多个过滤器可以同时应用。软件分析功能也可用于扩展PA/WPA系统功能，以满足您最苛刻的偏振成像需求。 应用 测量延时和方向，以及在。 - 玻璃 - PC和PMMA - PVA, CO, TAC, 和 PET - 以及其他透明或半透明的材料 适用于低迟钝的样品，如玻璃和更多。 这些系统可以定量评估缓变在硬化玻璃或激光加工的玻璃中的分布情况。它们可以帮助你了解制造条件和过程中的微小差异，并确定生产链中的问题。PA系列也是很好的质量控制工具。