电脑控制三维测量系统 APDIS MV4x0

便携式用于大型物品生产线

产品概述
Nikon 的 APDIS 是一代用于快速、自动化、非接触检测的激光雷达。可在无需手持探头、靶球或表面预处理的情况下进行绝对且可重复的远距测量，适用于复杂、精细或难以接近的零件的自动化检验。

自动化非接触测量
该系统可在远距离捕获细节，无需物理接触，从而免除了零件准备、靶球或适配器的需求，适合车间、生产线及计量室的重复检测自动化。

主要优势

• 高生产效率：快速、自动化的测量与最小的设置时间提高产能。
• 安装灵活：便携且适用于车间环境，可在现场或生产线上进行绝对测量。
• 保护零件与操作员：长距离激光测量在仪器、操作员与零件之间保持安全距离。
• 最少准备工作：外差干涉法使得对大多数表面无需靶球或预处理即可测量。

应用

• 航空航天 — 大型部件的自动化测量，用于间隙调整、接头检验等。
• 汽车 — 在高速条件下进行绝对特征测量，适用于生产线和计量室。
• 能源 — 对大型结构（如可再生能源组件）进行自动化控制与测量。
• 太空/卫星 — 对高反射或昂贵材料的表面进行非接触检测。

型号比较（选定参数）
MV430 | MV450 | MV430E | MV450E
测量范围：0.5 m 到 30 m | 0.5 m 到 50 m | 0.5 m 到 30 m | 0.5 m 到 50 m
数据率（所有型号）：4000 Hz
扫描速度（默认设置*）：MV430/MV430E – 500 点/秒（≈2 s/cm2） | MV450/MV450E – 1000 点/秒（≈1 s/cm2）
特征测量：标准特征扫描（MV430） | 增强特征扫描（MV450）
振动测量：MV450E – 最多 2000 Hz；灵敏度 1 µm/m（MV430 系列不适用）
环境防护等级（所有）：IP54

工作范围与朝向
工作极限：0.5 m – 30 m / 50 m
方位角：±180° | 俯仰角：±45°

精度（MPE）
MPE（基准）：20 µm + 5 µm/m
附加角度分量：13.6 µm/m

两点距离测量精度（摘要）
公式（MPE µm）：√(2(20 + 5·RAve)^2 + (13.6·RAve)^2)，其中 RAve = 平均量程（m）。
示例（平均量程 → MPE / 典型）：0.5 m → 33 µm / 17 µm；1 m → 40 µm / 20 µm；2 m → 57 µm / 28 µm；5 m → 115 µm / 58 µm；10 m → 216 µm / 108 µm；20 m → 420 µm / 210 µm；30 m → 625 µm / 313 µm。

备注
* 默认设置 — 堆叠 4、点间距 0.1 mm、线间距 1 mm。
** 增强特征扫描在特定设置下可比标准变体在某些模式下快近两倍。

技术规格

• 系列/型号：APDIS MV4x0（MV430、MV450、MV430E、MV450E）
• 测量范围：0.5 m 至 30 m（MV430/MV430E）或 0.5 m 至 50 m（MV450/MV450E）
• 数据采样率：4000 Hz
• 扫描速度（默认）：500 点/秒（MV430 系列）/ 1000 点/秒（MV450 系列）
• 特征测量模式：标准特征扫描 / 增强特征扫描
• 振动测量：MV450E 可达 2000 Hz；灵敏度 1 µm/m
• 工作极限：方位 ±180°，俯仰 ±45°
• 精度（MPE）：20 µm + 5 µm/m（基准）；角度项 13.6 µm/m
• 环境防护：IP54