辐射计

PALM探针用于测量空间有限或难以接触到紫外线源的应用中的系统性能（如标签、网络和加工应用）。 PALM探针（生产环境光测量） * 特别是在测量空间有限或难以建立的应用中，测量紫外系统的性能。 * 建立、记录和维护紫外线过程窗口。 * 测量高达10瓦特/厘米2的紫外线辐照度 * 广泛的动态范围（100,000:1）允许多种用途，从生产固化（高辐照度）到杂散危险（低辐照度）应用。 * 单手操作。 * 符合ISO、质量和客户对SPC/SQC的要求。 应用 - 在空间有限或紫外线源难以进入的应用中，用于测量系统性能（如标签、卷材和加工应用） - 建立和维护UV过程窗口，协调在线传感器和在线显示的读数 - 测量生产（高等级）和杂散危险（低等级）环境中的辐照度 特点 - 测量和显示峰值辐照度、能量密度和曝光时间 - 宽动态范围，自动调整范围和调零 - 电气隔离和绝缘的探头。不含可能断裂的纤维 - 可提供用于准确定位的定位器套件