白光测量系统 Quick Vision WLI

几何特征粗糙度3D

- 结合视觉系统和白光干涉仪（WLI）进行非接触式测量。 - 通过视觉传感器轻松对准和定位。 - 通过视觉系统实现全面的 QVPAK 功能。 - 增强的 WLI 系统功能可用于高分辨率形貌评估，如表面粗糙度分析。