机械轮廓测量仪 TS
用于粗糙度测量工业

机械轮廓测量仪 - TS  - MCE Metrology - 用于粗糙度测量 / 工业
机械轮廓测量仪 - TS  - MCE Metrology - 用于粗糙度测量 / 工业
机械轮廓测量仪 - TS  - MCE Metrology - 用于粗糙度测量 / 工业 - 图像 - 2
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产品规格型号

所用技术
机械
功能
用于粗糙度测量
技术参数
工业

产品介绍

TS 系统有两个电动调节测量轴,可以提高精度。 X 轴管理待测样品,Z 轴支持探测。 在机械基础方面,大理石确保了最高质量。 TS 型可集成粗糙度选项,该选项已包含在 TS-X 型中。 测量范围 X(毫米):至 280 测量范围 Z(毫米):至 350 负载能力:50 千克

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展厅

该卖家将出席以下展会

MICRONORA
MICRONORA

29 9月 - 02 10月 2026 Besançon (法国)

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    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。