X射线光谱仪 Epsilon 4

X 射线荧光工艺流程测量

无论生产地点在哪里，您的客户都会要求聚合物性能优越的一致性。 Epsilon 4 是一款能量色散型 X 射线荧光 (EDXRF) 台式光谱仪，用于提供了优越的重复性和准确性元素分析，可满足您的客户的一致性要求。 易于使用的测量程序，有限的公用设施要求和独特的校准解决方案，可在生产线附近和多个生产现场进行可再现的分析。 Epsilon 4 可提供长达数月的可靠结果，同时无需重新校准， 轻松保证产品质量。 原材料检验：来料的质量控制和ROHS符合性，如回收聚合物，添加剂，纤维。 过程控制：对钛、硅、钙、磷等元素进行快速和微量分析，以提高产品的一致性 最终质量控制：Epsilon 4可用于最终检测，以确保质量和成分，不同形状和厚度的产品在大样本模式下进行分析。 概述 关注产品质量和一致性 Epsilon 4 直接为聚合物、塑料和油漆生产商带来不菲价值。 通过对整个生产过程以及生产相邻过程进行快速直接的分析，实现可追溯性。 验证所用原材料的质量，并分析最终产品中是否存在添加剂、催化剂残留物和有毒元素。 马尔文帕纳科提供校准解决方案 ADPOL、TOXEL 和 RoHS，支持其用户确保消费者安全、提供始终如一的高端产品质量和性能。 下图为 Epsilon 4 在聚合物生产过程中为客户提供附加价值的地方。 特点 台式 XRF 的优势 Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。 聚合物应用解决方案 获取正确的校准样品是进行 XRF 分析的关键。 对于塑料和聚合物行业，我们开发了独特的校准解决方案，用于准确分析添加剂和催化剂残留物 (ADPOL)、有毒元素 (TOXEL)，依据 ASTM F2617 和 IEC 62321-3-1 确保符合 RoHS 标准 (RoHS)。 迅速、敏感 硅漂移检测器技术可产生明显更高的射线强度，从而实现快速测量。 独特的检测模块可以处理超过 1,500,000 cps 的线性计数率（50% 的死时间，非线性度<1%），和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV（@300 kcps），可更好地对邻近谱线进行分离。强有力的探测性能使得 Epsilon 4 能谱仪超越了传统台式仪器，实现了更快的测试响应和更低的检出限。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行，因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比，实现了更高的样品通量。