测量探头 Parsum IPP 70-S

浓度光学工艺流程

紧凑轻便、易于安装的IPP-70-S是一种可进行现场实时粒度及速度测量的探头，测量的固体颗粒粒度达6000 µm。 该探头防尘防水且无需采样或校准，可在高固体负荷或波动固体负荷进行连续性工艺监测，甚至可对研磨颗粒、油腻或粘性颗粒进行监测。 Parsum IPP 70-S为标准仪器选件。 该选件可用于化工、食品及医药行业的终端检测、工艺控制/优化以及实时质量控制，在如磨碎、团聚、制粒、筛分及喷雾干噪等单元操作中使用。 轻巧且便于安装，可与新型加工设备或现有加工设备快速整合。 动态检测范围宽—粒度为50 - 6000µm的颗粒，高达50m/s的速率检测。 在高固体负荷条件下测量结果重复性高，即使是无规律移动的颗粒—是流化床监测的理想产品。 通过综合型、客制化软件进行实时测量及反馈。 无需采样或校准。 多种附件，可应用于研磨类、油脂类、粘性及附着性颗粒。