激光扫描头 XC65DX

激光扫描头 - XC65DX - LK Metrology Systems
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激光扫描头 - XC65DX - LK Metrology Systems - 图像 - 2
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产品介绍

概述
XC65DX 是一款在单一传感器内集成三条激光条纹的交叉扫描仪。三束激光以120°间隔布置,从三个角度观测工件,使一次扫描即可获得相当于三次线扫描的数据量。长距变型保留了这些优势,同时改善对凹入或遮挡几何体的可达性,最大捕获距离可达170 mm(7.1")。适用于钣金以及复杂表面的特征检验,XC65DX 常用于汽车车身白车身(BIW)检验、间隙与齐平测量及传动系铸件检验,常安装于水平臂式测坐标机用于生产计量。

主要特性
  • 三激光条纹设计(单传感器内三激光,间隔120°)
  • 单次扫描实现等同于三次线性扫描的数据密度
  • 长距能力,便于获取被遮挡或凹入区域(最大170 mm / 7.1")
  • 适用于槽、孔、沟、腔体表面及复杂大面积几何形状
  • 典型应用:BIW 检验、间隙与齐平测量、传动系铸件检验;可集成于水平臂CMM

技术规格
  • 扫描器类型:交叉(Cross)
  • 点数/秒(交叉扫描模式):3 x 25,000
  • 点数/秒(单线模式):1 x 75,000
  • 扫描速率:75 Hz
  • 每线点数:900
  • 最大捕获距离(长距):可达170 mm(7.1")
  • 激光间隔:120°

典型应用
  • 钣金槽、孔、沟的检验
  • 车身(BIW)间隙与齐平测量
  • 传动系铸件检验
  • 在夹具/卡具上方及腔体内的扫描(生产CMM)
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。