粗糙度测量系统

角向用于定标自动

本系统用于二维全角反射测量，包括样品的表面分析或薄膜的镜面反射率，提高了对多角散射及其波长依赖性的自动测量能力。本系统也可用于表面反射率测量、表面粗糙度、薄膜厚薄的测量。 性分析等。通过旋转平台的设计，可扩展为三维全角度反射和漫反射测量系统或反射、透射、吸收系统，通常应用于半导体、二维或30材料、光电导体、太阳能、LED等领域。 面板.涂料及相关行业。 特点 - 可测量的光谱范围。380~1100nm，280~1050nm，900~1600nm。 - 自动校准功能 - 通过程序控制测量单次入射角和反射角的反射率。 - 程序控制下的单次入射角和反射角范围的反射率扫描测量}。 - 通过程序控制，对特定入射角和反射角范围进行反射扫描测量。 - 测量和分析反射/扩散比测量对波长的依赖性。 - 进行单层膜厚计算 - 用于追溯历史的数据库记录 - 该系统可以扩展到测量透射率和吸收率。 - 用旋转平台测量三维全角反射和漫反射曲线。 在其他领域的应用。 - 不同偏振下的元材料样品的光谱测量。 - 各向异性膜或晶体样品的角度依赖性的光谱测量。