硬度试验压头 Nano Indenter® G200X

Nano Indenter G200X是一种易于使用的纳米级力学测试工具，可快速提供精确的定量分析结果。G200X系统可处理从硬质涂层到软质聚合物的各种样品，并提供KLA Instruments纳米压痕仪产品线中最全面的测试套件。 Nano Indenter G200X提供了易于使用的纳米级力学测试工具，并快速、精确地对结果进行定量分析。G200X系统配置了我们性能最好的运动系统、最大的样品装载系统和高分辨率光学显微镜。因为拥有InView软件、iQWave2控制器和InForce作动器，我们的整个压痕产品线均拥有卓越的性能。G200X系统选件包括连续刚度测量（CSM）、扫描探针显微成像、划痕测试、频率扫描、电学性能测量、快速压痕测试和冲击测试。 主要功能 电磁驱动作动器可实现载荷和位移的宽动态范围控制 高分辨率光学显微镜与精密XYZ移动系统的结合能实现高精度观察与定位测试样本。 便捷的样品装载台与多样品定位功能实现高通量测试。 模块选件远不止能进行压痕测试，还可进行SPM成像、划痕测试、高温纳米压痕测量、动态压痕测试（连续刚度测量）和快速压痕测试等模块化升 级选件。 直观的用户操作界面便于快速进行测试设置；仅需点击几下鼠标即可完成测试的参数设置。 实时高效的实验控制，简单易用的测试流程开发和测试设置。 全套InView软件，包括用于分析数据和创建报告的ReviewData和InFocus。 备受赞誉的快速纳米压痕测试可用于生成材料力学性能图像，并提升统计数据的可靠性。 iQWave2高速数字控制器，数据采集速率最高可达100kHz，时间常数最快为16µs。 主要应用 快速硬度和模量测量（基于Oliver-Pharr模型） 快速材料表面力学特性成像 ISO 14577硬度测试 薄膜及涂层测试 界面附着力测量 断裂韧性测量 粘弹性测量，包括损耗因子，储存模量和损耗模量 扫描探针显微成像（3D 成像） 定量划痕和摩擦磨损测试 高温纳米压痕 行业分布 高校、科研实验室和研究所 半导体与封装产业 PVD/CVD硬质涂层（DLC、TiN） MEMS：微机电系统/纳米级通用测试 陶瓷与玻璃 金属与合金 制药 涂层与油漆 复合材料 电池与储能 汽车与航空航天 硬度和模量测量（基于Oliver-Pharr模型） 材料的力学性能表征在薄膜的工艺控制和制造过程中表征力学性能发挥着至关重要的作用，其中包括汽车行业的涂层质量，以及半导体制造中的前道和后道工艺控制等。 G200X纳米压痕仪能够测量从超软凝胶到硬质涂层的各种材料的硬度和模量。对这些特性进行快速评估可以为生产线提供可靠的品质控制及保障。 快速压痕力学性能成像 对于包括复合材料在内的许多材料而言，不同区域之间的力学性能可能会有很大差异。G200X系统在X和Y轴方向上各提供100毫米的样品台移动范围，在Z轴方向上提供25毫米的移动范围，在大面积样本区域下轻松表征不同厚度、宽度、长度的样本。可选的NanoBlitz表面形貌和断层扫描软件能快速生成任何测量力学性能的彩色图。 ISO 14577硬度测试 Nano Indenter G200X包括一个预编程的ISO 14577测试方法，可根据ISO 14577标准测量材料的硬度。该测试方法可自动测量和报告杨氏模量、纳米压痕硬度、维氏硬度和归一化的压痕功。