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光线强度测量系统
RDE300i™
功率
用于太阳能电池
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产品规格型号
物理量
功率, 光线强度
所测量的产品
用于太阳能电池
产品介绍
亮点:
RDE300i
对光伏组件进行原位 I‑V 测量,以在阵列内自动计算组件性能指标。
每个单元可在连接的组件上记录包含 Pmax、Isc、Imp、Voc、Vmp 的 I‑V 数据,可独立或串联工作。
以串内并联方式安装,RDE300i 执行周期性 I‑V 扫描而不影响逆变器运行,无需独立参考组件。
用于计算参考组件的有效辐照度(包括双面系统的总辐照度)并监测系统的最大潜在输出功率。
通过随附的 AUX 端口,可将多个 RDE300i 单元和/或额外的 Atonometrics 传感器组合起来,自动计算污染率及其他性能指标。
适用于各种组件类型:晶硅、薄膜、双面或单面组件。
符合 IEC 61724‑1 的污染测量要求,并被 PV Magazine Global 评为最佳 BoS 传感器。
通讯:通过 RS485 的 Modbus RTU。
输出:
功率、电流和电压(Pmax、Isc、Imp、Voc、Vmp)
污染率
性能比
I‑V 曲线
温度(支持 Pt1000 自粘式 RTD)
应用:
在阵列内部实时监测光伏组件性能和 I‑V 数据
量化由污染造成的损失,包括影响组件输出的非均匀污染
使用双面参考组件测量总有效辐照度
跟踪组件衰减及长期性能
其他可用信息:
数据表
用户指南
污染测量产品配置器
其他资源
特性 / 技术规格:
测量 I‑V 数据:Pmax、Isc、Imp、Voc、Vmp
测量能力:最高 30 A、250 V、1500 W
串内在线运行,执行周期性 I‑V 扫描且不影响逆变器运行
接口:RS485 上的 Modbus RTU
AUX 端口用于与附加传感器集成及组合多个单元
兼容组件类型:晶硅、薄膜、双面、单面
符合 IEC 61724‑1 污染测量要求
输出包括污染率、性能比、I‑V 曲线、温度和标准电气参数
支持 Pt1000 自粘式 RTD 温度测量
可用于计算参考组件的有效辐照度(包括双面总辐照度)
荣获 PV Magazine Global 最佳 BoS 传感器
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