光线强度测量系统 RDE300i™
功率用于太阳能电池
产品介绍
亮点:- RDE300i 对光伏组件进行原位 I‑V 测量,以在阵列内自动计算组件性能指标。
- 每个单元可在连接的组件上记录包含 Pmax、Isc、Imp、Voc、Vmp 的 I‑V 数据,可独立或串联工作。
- 以串内并联方式安装,RDE300i 执行周期性 I‑V 扫描而不影响逆变器运行,无需独立参考组件。
- 用于计算参考组件的有效辐照度(包括双面系统的总辐照度)并监测系统的最大潜在输出功率。
- 通过随附的 AUX 端口,可将多个 RDE300i 单元和/或额外的 Atonometrics 传感器组合起来,自动计算污染率及其他性能指标。
- 适用于各种组件类型:晶硅、薄膜、双面或单面组件。
- 符合 IEC 61724‑1 的污染测量要求,并被 PV Magazine Global 评为最佳 BoS 传感器。
- 通讯:通过 RS485 的 Modbus RTU。
输出:- 功率、电流和电压(Pmax、Isc、Imp、Voc、Vmp)
- 污染率
- 性能比
- I‑V 曲线
- 温度(支持 Pt1000 自粘式 RTD)
应用:- 在阵列内部实时监测光伏组件性能和 I‑V 数据
- 量化由污染造成的损失,包括影响组件输出的非均匀污染
- 使用双面参考组件测量总有效辐照度
- 跟踪组件衰减及长期性能
其他可用信息:特性 / 技术规格:- 测量 I‑V 数据:Pmax、Isc、Imp、Voc、Vmp
- 测量能力:最高 30 A、250 V、1500 W
- 串内在线运行,执行周期性 I‑V 扫描且不影响逆变器运行
- 接口:RS485 上的 Modbus RTU
- AUX 端口用于与附加传感器集成及组合多个单元
- 兼容组件类型:晶硅、薄膜、双面、单面
- 符合 IEC 61724‑1 污染测量要求
- 输出包括污染率、性能比、I‑V 曲线、温度和标准电气参数
- 支持 Pt1000 自粘式 RTD 温度测量
- 可用于计算参考组件的有效辐照度(包括双面总辐照度)
- 荣获 PV Magazine Global 最佳 BoS 传感器
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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。