涂层测厚仪 LEPTOSKOP 2042

便携式涡电流

根据探头的不同，带有清晰显示屏的手持式设备可利用涡流原理（根据 DIN EN ISO 2360）测定可磁化基材上非磁性层的厚度（根据 DIN EN ISO 2178）和非磁性导电基材上非导电层的厚度（根据 DIN EN ISO 2360）。 外部探头有多种型号可供选择，因此可以解决最多样化的测试问题。 主要特点 - 多种校准选项 - 多种显示模式，可根据测量任务进行最佳调整*。 - 限值输入和监控*。 - 测量值存储*，与 Windows 系统一样具有易于处理的文件管理功能 - 多种统计评估选项 - 可选择使用 iCom 或 EasyExport PC 程序将数据传输至 Windows 程序