光学粒度分析仪 Winner7302

工艺流程

Winner7301对在生产线上移动的干燥纳米颗粒粉末进行实时测量。它对于控制工业中的研磨、筛分和其他程序尤为重要。 主要特点。 原理。不同大小的颗粒会将照射的激光散射成不同的图案。在这个仪器中，He-Ne激光被用来照明，光子检测器阵列测量前向、侧向和后向散射的激光。软件自动将这些图案转换成尺寸分布。 新颖的技术。它采用了汇合光的傅里叶变换专利技术、光谱放大技术和垂直光路的设计。光子检测器阵列测量前向、侧向和后向散射的激光。这确保了从纳米粒子获得的测量结果的精确性和可重复性。 无约束数据拟合程序：粒子分析软件采用了我们开发的独特的无约束数据拟合技术，可以智能地测量未知的粒度分布，这对于材料研究人员，或测量数据中有多个峰值的粒度分布尤为重要。 样品室。样品室的独特设计提高了测量的精度。 规格。 型号 7302 测量范围 0.05-40μm 通道数量 79 执行标准 ISO13320，GB/T19077.1-2008，Q/JW001-2006 准确度误差 <5%(标准参考材料)