粗糙度测量系统 Waveline W900 series

弧形切割轴承用于轴承座

Waveline W900 系列专为高性能领域的测量任务而开发，例如在自动化过程链环境中。该系统有两个用于连接测头的接口，还可选配用于自动测量序列的附加轴。测头的布置和创新的横移概念确保了最佳的测量点接触。 系统特点 - 快速测量技术 - 高度灵活的动态测量 - 结合纳米扫描探头系统，测量精度极高 - 为自动数控测量运行提供丰富的选项 - 两个测头系统的双重操作；粗糙度测头系统也可安装在横动装置的前端；也适用于可选的旋转模块 - 可选配电动倾斜装置，用于精确调整倾斜角度，并自动将测头对准工件水平面 - 测量 Z 柱，带分辨率为 0.1 μm 的线性刻度，用于测量测头 Z 测量范围以外的垂直距离；需要带双测头的测臂 - 附加电动 Y 轴或 X-Y 轴组合，用于自动天顶搜索、地形测量和工件定位 - 可选旋转轴，用于圆柱形工件的圆周和轴向粗糙度测量 优点 - 测量周期最短 - 最高精度 - 最大灵活性 - QCA 快速更换适配器