光谱分析椭偏仪 iSE

iSE是一个新的原位光谱椭圆仪，为实时监测薄膜加工而开发。 使用我们成熟的技术，iSE使用户能够优化沉积薄膜的光学特性，以亚切斯特的灵敏度控制薄膜的生长，并监测生长动力学。 强大的 凭借光谱椭偏仪（SE）的力量，iSE能够以比其他技术更高的确定性测量厚度和光学特性。 紧凑 新的紧凑设计使其能够轻松地集成到任何试验室。 多用途 准确测定各种薄膜的厚度和光学特性，包括金属、半导体、氧化物、氮化物等等。 价格合理 以合理的价格获得椭圆光谱仪的能力。 易于使用 用户友好的界面，实时分析薄膜生长和蚀刻。