真空测试装置 VA 2030

用于电路板定制独立式

采用单独或替换式治具的规格设计，采用两种标准结构尺寸 VA 2030 和 VA 2040。 测试治具以其坚固和耐用的结构而见长。 通过大量的压紧单元、真空罩和附加接触单元，可以实现快捷扩展。还可以利用免抽真空区域和针对特定试件的保护罩实行个性化扩展。 除了客户定制开发的真空测试治具之外，INGUN 还提供单独的治具套件。 除了用于自行扩展的扩展材料之外，测试系统特定的扩展附件同样可用。 必要时，我们可以根据具体项目为您制造测试治具。 无论您的测试应用为何 - INGUN 为您提供匹配的测试解决方案。 产品特性： 用于组合型 FCT / ICT 测试的单独治具 适用于所有常用的测试系统接口 结构坚固耐用