磁场测试仪 FT3470 series

磁力场测试仪FT3470-51 为三轴磁通量密度测量提供可靠的支持 讎りｦ Hioki磁场测量仪是用于测量磁通量密度和磁场暴露水平，可用于评估ICNIRP 2010和IEC/EN62233的符合性和磁场暴露研究。FT3470-51可测量客户现场生产的产品或客户环境中的设备所产生的磁通密度和磁场暴露量，并附带1个传感器。 主要特点 - 符合ICNIRP 2010指南以及其他相关的评估测试标准。 - 符合IEC 62110/IEEE 644和IEC 62233标准。 - 与IEC/EN 62233标准分析的100 cm2传感器配套使用。 - 用户可选择显示单位（T、A/m和G）。 - 操作简单，便于测量 - 与PC应用软件捆绑在一起 基本规格(精度保证1年，调整后精度保证1年) 磁通密度（带宽）----10赫兹至400千赫/10赫兹至2千赫/2千赫至400千赫 接触水平----一般公众/职业 显示--单轴X、Y、Z（2000个计数），复合RMS值R（3464个计数），磁通密度（单位：T、G、A/m），曝光度（单位：%）。 磁通量密度/量程和精度 - [X、Y、Z轴] 有效测量范围：2.000 μT至2.000 mT，4个量程，精度：±3.5% rdg.±0.5% f.s. R轴] 有效测量范围：464μT至3.4μT，4个量程，精度：±3.5%rdg: 3.464 μT至3.464 mT，4个量程，精度：±3.5% rdg. 有效测量频率范围 在10赫兹-400千赫模式下。50赫兹至100千赫兹 在10赫兹-2千赫模式下。50赫兹至1千赫兹