• 高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)
• 根據DIN EN ISO 2177進行測量
• 透過彩色顯示螢幕和圖形支援的使用者指南直觀地操作
• 可輕鬆選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)
• 針對不同鍍層系統(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預先設定了近100種測量應用
• 測量單元上電壓曲線的圖形顯示
• 圖形和統計評估
• 帶支撐架的部分自動化測量,適用於各種樣品尺寸
• 全面的配件組合,以適應特定的要求
COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能
• 同時測量鍍層厚度和電位差
• 根據ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進行電位差測試
• 銀參比電極測量前的準備工作(產生必要的AgCl層)
• 電解電流可調整
• 可直接在測厚儀顯示器上評估電位曲線
應用
• 電鍍生產過程中的監控和成品的進廠檢驗
• 可以精確測量多種金屬鍍層的厚度0.05–50µm(根據材料不同)
• 金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測量
• 多鍍層體系:例如在鐵或塑膠基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層
• 雙鍍層體系:例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳
• 單鍍層如鐵上鍍鋅