主要用于航天信息电子等领域,在低压、高温、低温下或同时测定仪器、电器产品、材料、零部件和设备的环境适应性和可靠性试验,并测量试样通电时的电气性能参数。
标准。
GJB150.3-1986高温试验。
GJB150.4-1986低温试验。
GJB150.6-1986温度高度试验。
IEC 60068-2-1: 2007, 环境测试-第2-1部分。测试--测试A:低温,IDT;
IEC60068-2-2:2007,环境测试-第2-2部分:测试测试B:干热,IDT;。
GJB360A-1996方法105:低压测试。
IEC 60068-2-13:1983,基本环境测试程序...。
第2部分:测试M:低气压,IDT
IEC60068-2-40:1976,基本环境测试程序--第2部分:测试Z/AM:组合式冷/低气压测试,IDT
GB/T2423.26-1992试验Z/BM:高温/高压综合试验。
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