红外显微镜 C10506-06-16
检查倒置近红外

红外显微镜
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产品规格型号

分类
红外
专业应用类型
检查
人体工学模式
倒置
观测技术
近红外
其他特性
数码摄像机式, 高解析度, 光电发射式

产品介绍

倒置光发射显微镜是一种背面分析系统,旨在通过检测半导体器件缺陷发射的光和热来识别故障位置。 从背面检测信号便于在晶圆表面使用探测卡和探针卡,样品设置可以顺利进行。该平台可以安装多个探测器和激光器,能够选择最佳探测器,以执行各种分析方法,例如光发射和热生成分析、IR-OBIRCH 分析等;此外,通过测试仪连接,使动态分析能够高效执行。 ●iPHEMOS-DD 通过直接连接到 LSI 测试仪,可以减少由于连接电缆长度造成的信号延迟,并且可以对高速驱动样本进行分析。直接对接专用探针器可将多针指针连接到 300 mm 晶圆上,并且通过附加选件,可通过操作器执行封装分析和针指针连接。 特点 • 可安装两个超高灵敏度相机,用于微光分析和热分析 • 可安装多达 3 种波长的激光器和 EOP 探针光源 • 能够安装多个探测器的多平台 • 高灵敏度微距镜头和多达 10 个镜头,适用于每个探测器灵敏度波长 选项 • 包括激光扫描系统 • 使用高灵敏度近红外相机进行微光发射分析 • 使用高灵敏度中红外相机进行热分析 • IR-OBIRCH 分析 • 通过激光辐照进行动态分析 • EO 探测分析 • 使用 NanoLens 进行高分辨率和高灵敏度分析 • 连接到 CAD 导航 • 连接到 LSI 测试仪

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展厅

该卖家将出席以下展会

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 6月 2024 Frankfurt am Main (德国) 展会 11.1 - 展台 F62

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    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。