厚度测量系统 C10323-02

光学用于薄膜高速

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10323 是一种显微膜厚测量系统。如果物体具有会产生高水平散射光的不规则表面，则无法在宏观层面上进行测量。对于这些类型的对象，测量小面积会减少散射光，从而可以进行测量。 C10323-02 的电源电压为 AC100 V 至 AC120 V。 特点 • 微视野厚度测量 • 高速度和高精度 • 分析光学常数（n、k） • 提供外部控制 详细参数 • 型号 : C10323-02 • 可测量的薄膜厚度范围（玻璃） : 20 nm 至 50 μm① • 测量重现性（玻璃） : 0.02 nm② • 测量精度（玻璃） : ±0.4%③ • 光源 : 卤素光源 • 测量波长 : 400 nm 至 1100 nm • 光斑尺寸 : φ8 μm 至 φ80 μm④ • 工作距离 : 请参阅物镜列表 • 可测量层数 : 最多 10 层 • 分析 : FFT 分析、拟合分析、光学常数分析 • 外部控制功能 : RS-232C、PIPE、以太网 • 接口 : USB 2.0 • 电源 : AC100 V 至 AC120 V，50 Hz/60 Hz • 功耗 : 约 250 VA