TRITOP
光学三维坐标测量仪
兼备灵活性和机动性的光学摄影测量系统。
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便携式 TRITOP 坐标测量系统可快速准确地测量物体的三维坐标。相较于传统接触式三维坐标测量机,使用TRITOP 系统可以更轻松地开展测量工作。无需任何复杂、笨重和精密维护的硬件,只要让测量仪趋近物体即可。
与接触式坐标测量仪类似,TRITOP能记录所有几何特征的空间坐标及其方向。
表面点和截面
基元
孔、冲孔和边
直径、长度、角度
确定三维坐标以后,系统自动将测量结果转换至部件坐标系统中。
RPS
量具对齐
最佳拟合
将实际测量数据与 CAD 数据( IGES、VDA、STEP、Catia、ProE、UG)进行比较,生成用户熟悉的测试报告格式。
假色图示
标注显示个别偏差点
截面、角度和距离
直径和平面度
表格和列表
用于不同任务的测量数据和对齐数据。
CAD 比较
验证形状和位置公差
验证各种样图、文档或表格的规格
首检