隔离电阻测试仪 AutoSIR2+™

用于电子卡片表面

经过两年多的深入研究和开发，我们很自豪地推出用于测量表面绝缘电阻变化的新一代设备。 新的AutoSIR2+™系统代表了对现有SIR测试替代品的巨大改进，其屏蔽式精密电子装置允许进行最先进的精确电阻测量，最高可达1014Ω。 一个AutoSIR2+机箱可以容纳1到16个测量卡，可以监测多达256个2点测试模式或78个5点测试模式，或32个9点测试模式，可选择的间隔时间从几分钟到几天。每个通道都有电流限制（1 M Ω），这鼓励了树枝状物的生长，以便进行故障分析。频繁的监测能力提供了电路组件上发生的电化学反应的全貌，并提供早期趋势分析，使测试得以缩减，从而节省大量的测试时间和金钱。 主要特点 所有256个通道的测量可在<30秒内完成 应用电压。+1V至100V 测量范围。106Ω到1014Ω 测量方法。在所有选定的通道上连续测量 测量测试时间间隔。从最小的1分钟开始完全可选择 能够按照所有现有的测试规范进行测试 - IPC - IEC - JNC和其他用户规范 面向未来的设计 AutoSIR2+可提供64、128或256通道的配置。 连接时，系统会进行自我测试 适应性强且灵活的软件，可在Windows 7、8和10下运行