探针卡 LiProbe®

带有Lamella接触元件的探针卡，特别适用于设计种类繁多的射频应用。 良好的接触 久经考验的优秀接触质量 温度范围 -55°C至200°C 维护性 市场上有最好的可维护性 优势，您可以从以下方面受益 内部生产 LiProbe®是由Feinmetall内部开发和生产的。这意味着，除了标准组合外，还可以实现任何客户要求的解决方案。 安全的晶圆测试 安全始终是重点。新的LiProbe®安全功能保证了永久的安全测试，不会对晶圆造成损害。 杰出的温度特性 LiProbe®以ViProbe®的探头概念为基础，几乎以同样的程度服务于高温应用。 易于维护和服务 创新的 "自由光束放置 "工艺与圆形光束截面相结合，提供了市场上最好的可维护性，从而将停机时间降到最低。 最佳的射频性能 LiProbe®利用特殊的高频修改为高达100GHz的射频应用提供解决方案。