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光谱系统 CIP-FICO-II
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产品介绍
► 独立的光纤耦合Tx和Rx头
► 实时光谱分析
► 宽带灵敏度高达4.0THz
► 透射和反射模式
► 多种镜头选择以适应不同的成像条件
► 测量点由激光导引器指示，用于精确校准
功能性
► 独立的反射测量
► 非常适合光谱和成像应用，包括非破坏性测试
► 可穿透许多电介质材料
► 厚度和涂层测量
► 可选的XY成像平台，用于快速和方便的成像测量
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