性能测试系统 VIP Ultra

阻抗冲击电压用于电子工业

概述
VIP Ultra 由 Cosmic 推出，是面向功率半导体（Si、SiC、GaN）高吞吐量测试的新一代自动测试设备（ATE）。为无尘室集成设计，支持从 48 测试站（80 V / 250 A）并行扩展到 16 测试站（4 kV / 250 A），可执行直流和能量应力测试套件，同时保持紧凑占地并优化总体拥有成本。

主要优势

• 为功率器件测试流程提供最低的总体拥有成本
• 通过广泛的并行测试能力实现超高吞吐量
• 占地极小，便于与探针台和处理设备集成

产品概述
VIP Ultra 是一款可配置的 ATE，面向功率半导体测试（分立器件、功率模块、驱动 IC 等）。平台集成多通道直流源/汇、每通道测量单元、高密度数字 IO（支持逐针测量/源 PPMU）、LCR 表、高灵敏度皮安表、TMU 和可编程负载/测量电路，以支持跨类别的 DC 与能量应力测试。该产品于 APEC 2025 发布并获得行业媒体认可。

配置

• VIP Ultra STD 80V
• VIP Ultra HV 1.7kV
• VIP Ultra HV 4kV

技术规格

• 测试站数量：STD：48；HV 1.7kV：32；HV 4kV：16
• 尺寸（D × W × H）：647 mm × 638 mm × 702 mm
• DCS 源（DCS MP）：STD：48 通道，80 V @ ±4 A；1.7kV 版：32 通道；4kV 版：16 通道
• 高压供电能力：80 V @ 250 A（STD 48 站）；1.7 kV @ 250 A（32 站）；4 kV @ 250 A（16 站）
• 负载编程模块：最多 48 个高电流 Sink/Source，最高 250 A @ 80 V，带 TMU 与差分计量电路（变体：32 / 16 通道）
• 数字通道：STD / 1.7kV 最多 320 个；4kV 最多 160 个
• PPMU：STD / 1.7kV 最多 64 个；4kV 最多 16 个
• 浮置数字驱动：STD 最多 48 通道（-5 V 至 18 V）；1.7kV 最多 32；4kV 最多 16
• TMU：每站 48 个时序测量单元
• LCR 表：48（STD）；32（1.7kV）；16（4kV）
• 皮安表：最多 48 / 32 / 16；电流范围 2 nA 至 2 µA，精度可达 ±20 pA
• 测量精度：皮安表精度可达 20 pA；提供逐通道 PPMU 测量能力
• 感性与阻性负载：基于定制板的解决方案
• 数字 IO 电压范围：0–5.5 V（50 mA），具备 DSIO 存储与逐通道 PPMU 支持
• 并行性能示例：48 站 @ 80 V / 250 A 与 16 站 @ 4 kV / 250 A
• 集成：紧凑外形便于无尘室集成，并兼容探针台和处理设备