Bettersizer S3 Plus 将激光衍射和动态图像分析集成到一台仪器中,能够测量 0.01 μm 至 3500 μm 的粒度和粒形。它对超细和超大颗粒都具有无与伦比的灵敏度,再加上出色的分辨率,使其成为热衷于前沿科学研究的科研人员的终极粒度和粒形分析仪。
特点和优点:
测量范围为 0.01 - 3,500μm (激光系统),2 - 3,500μm (图像系统)
开创性地将激光衍射与动态图像分析相结合
获得专利的 DLOI(双透镜和斜入射)系统可测量小至 0.01 微米的超细颗粒
双摄像头成像技术可实时显示颗粒图像,并能检测到最大 3500 微米的超大颗粒
折射率测量
BT-A60 自动进样器使您的生产力更上一层楼
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