工业测量与数据采集(DAQ)报告
产品概述
Banalytics 从传感器和数据采集(DAQ)硬件中采集原始测量数据,通过锁定接口将其传递给您自有的测量或分析算法(例如颗粒粒度分析、校准程序或振动分析),并自动生成带时间戳的结构化测量报告和仪表盘,且不会暴露底层方法。
解决的问题
研究、数据采集和测量团队需要针对整套仪器进行自动化、可重复的测量报告生成,而不仅仅是原始数据记录;但通用测量软件通常与某家供应商的硬件捆绑,或者需要向第三方平台公开专有校准或分析方法才能获得报告功能。
工作原理
现场设备(传感器、数据采集硬件)→ Banalytics 采集(校准处理、缓冲、时间戳同步)→ 您的测量或分析模块(通过 ZeroMQ IPC/TCP、共享内存或进程内通信) → Banalytics 编排(自动生成报告、仪表盘、事件历史记录)→ 外部用户(SCADA、质量管理系统、历史数据存储系统)。
架构示例
站点 A(海上钻井平台测试台):颗粒测量传感器 → 数据采集硬件,通过 ZeroMQ IPC 连接至客户的颗粒粒度分析算法,采用进程内通信。
站点 B(陆上管道站):流量/压力传感器,Modbus RTU,通过 ZeroMQ TCP 连接至客户的测量模块。
所有站点 → Banalytics 仪表盘 · 自动生成带时间戳的测量报告 · 事件历史记录 · 通过 MQTT 连接至 SCADA。
适用对象
研究、数据采集和测量团队;
仪表工程师;
需要经过校准且能自动生成报告的测量数据,同时无需暴露自身方法的工艺和质量实验室。
主要功能
校准处理集成在数据采集层中。
每次采集或处理周期后自动生成带时间戳的测量报告。 将颗粒、振动和声发射分析数据直接传递至您的自有算法。采用分层传输架构(ZeroMQ IPC/TCP、共享内存、进程内)。
锁定的模块接口契约,确保您的测量方法保密。
事件历史记录作为可查询的、带时间戳的测量运行历史数据库。
技术规格
支持的协议:ONVIF、RTSP、Modbus(RTU/TCP)、MQTT、ZeroMQ、USB、OPC UA、I2C
校准:校准参数和时间戳处理由 Banalytics 采集模块管理,与您的测量或分析算法相互独立。
报告:每次采集或处理周期结束后,自动生成带时间戳的结构化测量报告。
模块接口:您的测量、校准或颗粒尺寸分析算法在受保护的接口后运行;仅对外公开结构化结果和运行状态。
历史数据记录:事件历史记录功能会保留可查询的测量运行和报告生成记录。可扩展性:根据仪器数量和数据速率选择传输层。
工作流程
第 0 阶段:技术演示(免费)。基于您自己的测量用例进行架构演示,无需提供数据。
第 1 阶段:概念验证(始终免费)。使用模拟或重放的测量数据验证模块接口契约及自动测量报告格式;无需真实硬件,无需针对特定设备的工程开发。
第 2 阶段:有资金支持的试点。 连接真实传感器和数据采集(DAQ)硬件,并在实时测量中验证校准处理和报告生成功能。当购买了范围明确的部署协助服务,或需要定制设备/第三方软件集成时,即转为商业化服务。
第 3 阶段:生产环境。进行系统强化并扩展至更多仪器或站点;持续支持需另行约定。
---