高温热冲击舱 TS series

低温快速快速温度循环

概述
TS系列 JEDEC22-A104 温度循环与热冲击试验箱将温度循环、快速温度变化和热冲击功能集成于一体，适用于半导体、集成电路、PCB及电子组件的可靠性试验。系统可在高温或线性温度变化条件下选配湿度控制，并提供适用于生产线或实验室的模块化配置。

主要功能

• 集成温度循环、快速温度变化和热冲击试验
• 高温或线性变化试验时可选湿度控制
• 三档低温等级（A/B/C），可选高温至+200 °C
• 触控屏控制，RS-232 / RS-485 数据记录与自动化接口

配置

• 双腔 — 篮筐传递（垂直堆叠）：样品篮在冷热腔间移动，实现快速传递与高循环产能，适合批量测试
• 单腔 — 样品静置（气流切换）：在样品静置情况下高速切换热/冷气流，适合精密或带线样品，避免机械应力

系统特性

• 速度：恢复时间 ≤ 5 分钟，转换时间 ≤ 5 秒，满足 IEC/EN 型谱
• 覆盖范围：最低可达 −65 °C；可选 +200 °C 高温能力
• 循环：可编程至 999 周期，单步可达 999 小时
• 控制：图形化触控界面；RS-232 / RS-485 支持日志记录与自动化
• 冷却：二元/双级快速冷却系统，水冷或风冷压缩机可选
• 运行模式：自动与手动冲击模式

符合标准

• EN 60068-2-14 / IEC 60068-2-14（温度变化）
• GB/T 2423.22
• MIL-STD-810G / MIL-STD-810F
• ISO 16750-4
• JESD22-A104（温度循环）与 JESD22-A106（热冲击）

交付物与服务

• 安装与操作手册（含接线图与启动检查表）
• 出口装箱单与标准发运文件
• 12 个月保修，覆盖试验箱、制冷系统与控制器；提供终身远程技术支持
• 交期：标准机型约 20 个工作日；定制机型 30–40 个工作日

TS 系列 — 型号对比

• TS-49（内寸 400×350×350 mm）— 约 450 kg
• TS-80（内寸 500×400×400 mm）— 约 600 kg
• TS-150（内寸 600×500×500 mm）— 约 750 kg
• TS-252（内寸 700×600×600 mm）— 约 950 kg
• TS-450（内寸 800×750×750 mm）— 约 1200 kg

应用

• 半导体器件与集成电路的可靠性测试
• PCB 与电子组件验证
• 汽车电子元件验证
• 航空航天材料与部件测试
• 金属、塑料、橡胶与复合材料的材料测试
• 研究实验室与检测/认证机构

技术规格

• 温度等级：A 型 −40 °C；B 型 −55 °C；C 型 −65 °C；高温 +150 °C 标配，+200 °C 可选
• 恢复时间：≤ 5 分钟；转换时间：≤ 5 秒
• 控制精度 / 均匀度：±0.5 °C / ±2 °C
• 内外箱材质：内箱 SUS 304 不锈钢；外箱不锈钢或喷漆冷轧钢板
• 保温材料：高密度耐高温泡沫
• 控制系统：PID + SSR + 微电脑平衡温控；触控屏；RS-232/RS-485
• 制冷系统：半密封或全密封双级压缩机（水冷/风冷可选）
• 安全保护：无熔丝断路器、压缩机高低压开关、制冷高压开关、故障报警、过温与缺水保护
• 电源选项：AC 220 V 单相 或 AC 380 V 三相
• 保修：12 个月；提供终身远程技术支持