RENISHAW/雷尼绍接触式探头

测量容量: 1 mm

REVO® SFP2使表面粗糙度检测与坐标测量机 (CMM) 测量程序整合。 表面光洁度/表面粗糙度测量 传统的表面粗糙度测量依赖手持式传感器或者需要将工件搬运到专用测量机上。REVO多类型传感器系统彻底突破了上述局限，它将表面粗糙度检测整合到坐标测量机 (CMM) 测量程序中，可让用户在扫描测量与表面粗糙度检测之间切换。该独特功能还可将表面粗糙度分析完全整合到同一份测量报告中。 在五轴测量技术的支持下，SFP2的自动化表面粗糙度检测可显著节省时间，减少工件搬运，并获得更高的CMM投资回报。

RSP2用于2D扫描和3D触发测量。 RSP2是一种专门用于REVO系统的精巧测头，能够进行2D扫描 (x、y) 和3D触发测量 (x、y、z)。RSP2有一个通用的测头本体，其上可安装多种长度的测针吸盘，最小工作长度为175 mm，最大工作长度可达500 mm。

测量容量: 0.5 mm

RSP3为REVO®系统提供3D扫描 (x,y,z) 能力，并可安装测针曲柄进行测量。 RSP3是RSP2测头的补充，为REVO系统提供3D扫描 (x,y,z) 能力，并可安装曲柄式测针进行测量。它用于三轴扫描测量，例如在测量过程中，使用固定的REVO测座角度。RSP3测头系列可以使用不同长度的测针，同时保持优异的测量性能。

传统触发测量方法依靠加快坐标测量机的三轴运动速度进行快速测量，PH20与之不同，它采用为REVO系统（曾获得多项殊荣）开发的测座运动技术，可在较高的测量速度下将坐标测量机的动态误差降至最低。 PH20独特的“测座碰触”可以仅通过移动测座而不是坐标测量机结构，来采集测量点。可以更快地采集测量点，并且提高了精度和可重复性。 此外，五轴联动可省去测座旋转定位时间。综合上述因素，这些速度的显著提高使得新系统的测量效率比传统系统提高了两倍。

具有模块交换功能的超小型触发式测头，可以配用一系列测针配置和加长杆测量复杂工件的特征。 TP20与MCR20和PI 200-3配用 TP20是一款超小型五向或六向机械结构式触发测头系统。双部件设计，由测头本体和可分离测针模块组成，使用高重复性磁接头连接。因此具备了手动或自动更换测针配置的功能，无需重新标定测针端部，大大节省了检测循环的时间。 模块具有多种触发力，使测头性能能够完全符合测量需求。还有一系列测头加长杆及一个六向模块可供选择。测针安装螺纹与雷尼绍M2系列的测针匹配。 TP20系统可方便地用于坐标测量机系统的改造，并与现有触发式测头接口、加长杆和转接头兼容。

具有模块交换功能的超小型测头，它使用应变片机构，比机械结构式触发测头的寿命更长、精度更高 TP200与SCR20和PI 200-3配用 TP200系统组件包括： TP200或TP200B测头本体（TP200B为另一款，允许更大振动公差） TP200测针模块 — 选择固定越程测力：SF（标准测力）或LF（低测力） PI 200-3测头接口 SCR200测针交换架 还有一种EO模块（长过行程），过行程测力与SF相同，但工作范围更大，并在测头Z轴方向提供保护。 ...

具有M8和各种自动吸附安装选项的坚固机械结构式测头。 TP6和配PI 200-3的TP6A TP6和TP6A测头具有不同的测头安装选项（分别为M8螺纹安装和自动吸附接头安装）。这两种测头都是机械结构式触发测头，都具有手动调节测力，可优化不同测针配置的测头性能。 它们可以配用长测针（M3系列），直径为25 mm，可提供大过行程，获得优异的坚固性。

25 mm直径应变片触发式测头，具有自动吸附固定选项，适于高精度的工件量测。 配合PI 7-3使用的TP7 TP7M测头是采用应变片技术的电子测头，具有较高的精度，消除了各向异性和复位误差，并且使用寿命比机械结构式触发测头长很多。 通过多芯自动吸附连接，TP7M可与 PH10M PLUS / PH10MQ PLUS机动测座、PH6M固定式测座以及多芯加长杆 (PEM) 系列兼容。

测量容量: 20 mm - 200 mm
解析度: 0.1 µm

直径仅为25 mm，配备一系列扫描及触发模块，SP25M是世界上最小型的多用途扫描测头系统。 SP25M +模块 SP25M由两个传感器组成，包含在一个外壳中。用户可从五个扫描模块（可安装长度从20 mm至400 mm的M3测针）中任意选择一个，与转接模块（与雷尼绍的TP20系列测头模块兼容）进行切换。这一功能可实现在单个测头系统中进行扫描和触发测量。 SP25M小巧的尺寸和自动吸附安装功能使之与PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M测座兼容。它还可安装在自动吸附的多芯加长杆上。同时，这些组合具有极佳的测触能力，便于检测各种零件特征。 SP25M技术详情，请参阅SP25M技术论文。

雷尼绍的SP600模拟扫描测头系列为各种坐标测量机提供高性能检测、数字化及轮廓扫描功能。 提供三种用途极为广泛的SP600扫描测头系统。每个系统包括测头本身、计算机接口卡及测针模块交换架。 特性与优点 300 mm/s的高速扫描、快速点测量和高频率响应 测力低，极大提高了应用的灵活性 极其坚固耐用的设计，使系统能够承受中等强度的碰撞 成本低，优异的产品使用寿命（工作时间超过50,000小时） 低质量、高结构刚性和无摩擦粘性减振的特性带来极佳的动态性能