Nikon Metrology测量系统

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位置测量系统
位置测量系统
APDIS series

... 激光雷达为车间带来绝对、精确和快速的测量,从而实现汽车车身车间的真正过程控制,并实现质量4.0。 APDIS MV430E提供迄今为止所有激光雷达中最快的特征测量速度,可以在生产线节拍时间内检测关键特征,或采用抽样策略覆盖一组车身的更多特征,以实现真正的过程控制 提高生产效率 了解APDIS增强型MV430E系统如何成为有史以来最快的激光雷达 质量控制的革新 了解APDIS激光雷达如何为汽车质量控制带来变革 与CAD直接比较 在全自动机器人测量解决方案中使用APDIS系统,引入了一种创新的白车身 ...

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视频测量系统
视频测量系统
NEXIV VMZ-S series

... 高速度和高精度相结合,可以更快地完成测量任务。 VMZ-S系列具有高精度和高速测量功能,可满足日益增长的复杂需求,也可进行广泛应用。 6种光学变焦系统系统从零开始设计,利用专门设计的尼康光学系统提供高精度测量。 高速高度测量 高精度、高速高度测量通过高精度透镜激光自动对焦实现,能够以每秒1000点的速度进行高速扫描。 测量困难样本的能力 利用尼康独家的照明配件,可以轻松测量难测的边缘和特征。 不间断自动测量 即使部件定位发生变化,也可以实现精确测量

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视频测量系统
视频测量系统
iNEXIV VMA-2520

iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程,为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。 通过宽视场进行各种测量应用 iNEXIV VMA系列提供3大类机型,带有宽视场光学器件和接触式探头接口,是使用视觉和接触式测量的各种工业测量、检查和质量控制应用的理想选择。 长工作距离 73.5 mm长工作距离。最适用于高度变化大、凸台高、细孔、深孔等的深度测量。 接触式测量(选配) 能够测量不可见特征的尺寸和角度,例如零件侧面的孔。

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气隙测量系统
气隙测量系统
GF320

... 尼康的APDIS间隙和冲洗系统为车轮上的车辆、移动生产线检查和质量控制提供了一种新的方法。 面板和闭合的间隙和平齐度可以直接影响客户对车辆和品牌质量的看法。对这些特征的可靠测量可以实现过程反馈和质量控制,但需要在车辆行驶中自动和安全地完成。APDIS间隙与平齐系统就提供了这样的服务。 APDIS激光雷达技术 APDIS激光雷达已经在全球范围内用于汽车检测,它为移动线路的间隙和齐平测量带来了新的层面。 集成、自动、灵活 三个激光雷达覆盖一个大的体积,测量与传送带运动同步,系统可轻松配置,适用于不同的车辆型号 ...

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坐标测量系统
坐标测量系统
MV series

... 提供了迄今为止所有激光雷达中最快的特征测量,可以在生产线的时间内对关键特征进行检测,或者采用抽样策略在一组车体上覆盖更多的特征,实现真正的过程控制。 与CAD的直接比较 在全自动机器人测量解决方案中使用APDIS系统,为白车身(BIW)检测引入了一种创新方法。 独立于机器人的精度 机器人定位激光雷达以提供所需特征的视线。然后,激光雷达通过测量夹具上的工装球,自动重新定位到零件上。 提高检测效率 APDIS激光雷达解决方案的测量速度是传统CMM的6倍以上,可以大大增加测量产量。 随着白车身检测向质量4.0 ...

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视频测量系统
视频测量系统
iNEXIV VMA-4540

iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程,为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。 通过宽视场进行各种测量应用 iNEXIV VMA系列提供3大类机型,带有宽视场光学器件和接触式探头接口,是使用视觉和接触式测量的各种工业测量、检查和质量控制应用的理想选择。 长工作距离 73.5 mm长工作距离。最适用于高度变化大、凸台高、细孔、深孔等的深度测量。 接触式测量(选配) 能够测量不可见特征的尺寸和角度,例如零件侧面的孔。

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视频测量系统
视频测量系统
iNEXIV VMA-6555

iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程,为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。 通过宽视场进行各种测量应用 iNEXIV VMA系列提供3大类机型,带有宽视场光学器件和接触式探头接口,是使用视觉和接触式测量的各种工业测量、检查和质量控制应用的理想选择。 长工作距离 73.5 mm长工作距离。最适用于高度变化大、凸台高、细孔、深孔等的深度测量。 接触式测量(选配) 能够测量不可见特征的尺寸和角度,例如零件侧面的孔。

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视频测量系统
视频测量系统
NEXIV VMZ-K3040

... /高分辨率3D检测。 突破性的多功能共聚焦影像测量系统 融合了共焦技术,具有15倍变焦的明视野和激光自动对焦。 无论需要什么样的几何测量,二维或三维,检查和评估都异常快速和准确。 共焦光学系统可实现清晰显示,便于准确检测高对比度样品边缘。 精细凸点和基板图案 在同一视场内结合15倍变焦明场图像的2D测量和3D高度测量,可以实现多样化测量。 探头卡 可以根据位置数据一键式地进行编程。可以使用独家的图像处理工具自动测量探头卡上的XYZ坐标和共面接触探头销。 精密PCB ...

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厚度测量系统
厚度测量系统
NEXIV VMZ-K6555

... /高分辨率3D检测。 突破性的多功能共聚焦影像测量系统 融合了共焦技术,具有15倍变焦的明视野和激光自动对焦。 无论需要什么样的几何测量,二维或三维,检查和评估都异常快速和准确。 共焦光学系统可实现清晰显示,便于准确检测高对比度样品边缘。 精细凸点和基板图案 在同一视场内结合15倍变焦明场图像的2D测量和3D高度测量,可以实现多样化测量。 探头卡 可以根据位置数据一键式地进行编程。可以使用独家的图像处理工具自动测量探头卡上的XYZ坐标和共面接触探头销。 精密PCB ...

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长度测量系统
长度测量系统
MF series

数显高度计MF-1001 / MF-501 / MH-15M 光栅尺内置的数字测量仪。可以0.01μm的最小读数测量小型精密仪器和电子零件的厚度、高度差等。 数显高度计 有3种测量头可供选择。还有各种计数器、底座、测头等,可以满足各种测量需求。 三种测头,两种计数器 三种测头型号是 0-100mm量程的MF-1001、0-50mm量程的 ...

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