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重量: 100 kg
... 实现亚埃级分辨率的EDS元素面分析。 2. 新型屏蔽体 TEM柱采用箱式外壳，可减少温度、气流、噪声等环境变化的影响，从而提高显微镜的稳定性。 3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™ : 快速准确的像差校正 4. 稳定性提高 CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了发射体附近的真空、发射电流、探针电流的稳定性。其他改进也提高了显微镜的稳定性和对各种干扰的抵抗力。
Jeol
空间分辨率: 0.08 nm - 0.23 nm
JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。 “NEOARM” ...
Jeol
空间分辨率: 0.19, 0.23 nm
JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。 “NEOARM” ...
Jeol
空间分辨率: 0.14 nm - 0.31 nm
JEM-2100Plus电子显微镜，不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统，还增加了最新的控制系统，大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越，操作方便，简明易懂，在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。 JEM-2100Plus电子显微镜，不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 ...
Jeol
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