HELMUT FISCHER检查光谱仪

... XUL®系列正是每個電鍍生產線的基礎設備。這些簡單易用且價格適中的能量色散X射線螢光分析儀非常適合監控鍍液成份，但在品質控制方面也是不可或缺的幫手：堅固耐用，非常適合測量批量生產的零件（如螺母和螺栓）上的電鍍層 。 XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中；或者，對於較小的物品（例如插頭），儀器可以配備手動樣品台。儘管測量設備緊密，但它們為您的樣品提供了足夠的空間-高度可達17釐米。 如果您有多種不同的測量任務，FISCHERSCOPE ...

... XUL®系列正是每個電鍍生產線的基礎設備。這些簡單易用且價格適中的能量色散X射線螢光分析儀非常適合監控鍍液成份，但在品質控制方面也是不可或缺的幫手：堅固耐用，非常適合測量批量生產的零件（如螺母和螺栓）上的電鍍層 。 XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中；或者，對於較小的物品（例如插頭），儀器可以配備手動樣品台。儘管測量設備緊密，但它們為您的樣品提供了足夠的空間-高度可達17釐米。 如果您有多種不同的測量任務，FISCHERSCOPE ...

... FISCHERSCOPE®X-射線 XDL®和XDLM®光譜儀與 XUL 系列密切相關。主要元件（例如探測器，X射線管和濾波器組合）是相同的，但兩者有一個顯著的區別：XDL和XDLM設備是從上到下進行測量，這意味著可以方便地分析非平面樣品-複雜形狀不再是難題！ 自上而下的測試方式還有另一個優點：可以很容易地實現自動測量。 XDL240和XDLM237配備了可程式設計控制的樣品測試台，非常適合掃描樣品表面。 因此，您可以檢查較大部件上的鍍層厚度，或自動逐個測量大量的小部件。 與XUL系列一樣 ...

... FISCHERSCOPE®X-射線 XDL®和XDLM®光譜儀與 XUL 系列密切相關。主要元件（例如探測器，X射線管和濾波器組合）是相同的，但兩者有一個顯著的區別：XDL和XDLM設備是從上到下進行測量，這意味著可以方便地分析非平面樣品-複雜形狀不再是難題！ 自上而下的測試方式還有另一個優點：可以很容易地實現自動測量。 XDL240和XDLM237配備了可程式設計控制的樣品測試台，非常適合掃描樣品表面。 因此，您可以檢查較大部件上的鍍層厚度，或自動逐個測量大量的小部件。 與XUL系列一樣 ...

... 適用於小型結構的自動測量 • DCM 方法可簡單快速地調整測量距離 • 完全受保護的儀器，根據現行輻射防護法規獲得型式認證 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD 是 Fischer 產品組合中功能最強大的 X 射線螢光儀器之一。該 XRF 光譜儀配備了一個強大的高分辨率矽漂移探測器 (SDD)，有效面積為 50 mm²。這讓您可以精確且無損的測量最薄的鍍層 - 例如。 導線架上約 2 奈米厚的金鍍層。 裝載全新內部研發的數位脈衝處理器 ...

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB 還配備了比例計數管。但是，此 XRF 儀器具有多種準直器和濾光片，因此您可以為您的任務創建最佳測量條件。在基本配置中，它有一個拉出式樣品台，可簡化 PCB 的定位。根據要求，還可提供用於自動測量的可程式 XY 載物台。 • 用於標準應用的鎢微聚焦管 • 4個可切換的準直器可優化測量條件 • 3種可切換的濾波器可為更複雜的任務提供更好的激發條件 • 最小的測量點 Ø 約0.15 毫米 • 用於分析從鉀 ...